特瑞堡采用有限元分析为半导体客户模拟弹性体的压缩永久变形

密封件使用寿命取决于材料和应用的各项参数。对热固性弹性体密封件来说，密封功能和寿命通常受限于密封材料在压缩下的永久变形量，该数据通过压缩永久变形测试来测量。了解密封件的使用寿命有助于工程师根据特定应用需求设计密封件，并将其制造成成品。

特瑞堡密封系统半导体业务开发专家Kevin Kaufenberg表示：“使用计算机仿真对弹性体进行压缩永久变形模拟很常见，但我们的专家设计了一种方法，将材料中的机械数据输入到我们的有限元分析（FEA）工具中。这种先进的技术能力可以在设计阶段就提供更准确的密封件使用寿命数据，从而使客户受益。我们的有限元分析可以扩展到动态应用，还可以根据应用，确定粘弹性等密封特性以及磨损或热效应等其他衰减密封件使用寿命的行为。”

为了更好地服务半导体客户，特瑞堡专家还可以在压缩永久变形测试期间为客户提出材料选择的建议。我们的Isolast® PureFab™系列材料在先进的高端制程中可提供卓越的性能，包括沉积、蚀刻、灰化/剥离、等离子清洗和原子层沉积等热处理制程。

了解更多关于特瑞堡压缩永久变形测试和半导体丰富的产品系列，可浏览网站：https://www.trelleborg.com/en/seals/your-industry/semiconductor.